vlsi - 在 VLSI 测试中，为什么我们在 DFT（可测试性设计）中的扫描插入之前执行 mbist？

Question

在 DFt（可测试性设计）中，我们可以在 DFT Flow 的任何阶段执行 MBIST。在扫描插入之前做 Mbist 的具体优势是什么？

Answer 1

我假设您在谈论 dft 插入阶段，而不是测试执行阶段。

在mbist之后进行扫描插入可以使mbist插入的电路可测试，从而增加测试覆盖率。

Answer 2

有时我们必须将测试向量存储在 SRAM 中以方便测试。所以我们做 MBIST 并确保我们的内存可以正常工作以存储测试向量，然后我们使用存储的测试向量进行扫描插入。

希望我回答了你的问题..