我们正在将 InfluxDb 引入我们的组织，并遇到了我们的第一个障碍：将两个时间序列合并为一个。
每 24 小时，我们都会从大量设备中收集固件数据。他们最终或多或少地像这样进行测量：
time deviceId value
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1506808800000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.1
1506808800000000000 db7c5414-ae9e-4303-bafe-b0d70a46d01b 2017.10.1
1506895200000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.2
1506895200000000000 db7c5414-ae9e-4303-bafe-b0d70a46d01b 2017.10.2
1506981600000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.3
1507327200000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.7
1507586400000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.10
1507704360000000000 db7c5414-ae9e-4303-bafe-b0d70a46d01b 2017.10.10
1507704360000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.11
1507704360000000000 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 2017.10.10
有问题的设备也会生成某些值，我们会在“missingValues”时间序列中跟踪这些值的质量（其中 value 是缺失值的数量，batchSize 是预期值的数量 - 值 24 表示 100 % 损失，0 为无损失）：
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time batchSize deviceId value
1507413600000000000 24 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 0
1507413600000000000 24 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 3
1507413600000000000 24 ad0277c6-3513-4769-80f2-819516856e18 7
1507413600000000000 24 db7c5414-ae9e-4303-bafe-b0d70a46d01b 2
如前所述，固件时间序列每 24 小时更新一次，而 missingValues 时间序列是间歇更新的。输入 missingValues 值后，我需要获取该特定设备 ID 的最新固件版本，并将其与其余缺失值标签和字段组合以形成“missing_values_with_firmware”。目标是能够做（伪代码）“select deviceId, avg(value/batchSize) from missing_values_with_firmware”来分析固件对数据质量的影响。
这样做的最佳方法是什么？我已经尝试创建一个连续查询，但是我无法弄清楚如何做选择时间、值、批量大小、设备 ID 的子选择部分，（从 deviceId = m.deviceId 的固件中选择最后一个（值）和时间 <= m.time)
kapacitor 会是更好的选择吗？