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我想模拟/测量 3V 纽扣电池的寿命。这是将使电池爆炸的电路：

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脉冲串由 CTRL1 和 CTRL2 线控制，有一些时序要求。

一个爆发是：

                ARM    TX   RX     TX      RX   TX
CTRL1           L      H    H      H       H    H
CTRL2           H      H    L      H       L    H
Length (ms)     3.72   2.6  0.84   4.04    0.8  1

H = 10 V
L = 0 V

现在我想通过应用一个突发间隙一个突发间隙等来耗尽电池。间隙应该是可变的。首先，我想使用 10 秒作为间隔。我想画出电池特性。我想模拟例如 5 年，模拟中应该是 1.2 天。我有 NI PCI 6221（37 针）数据采集卡。有人可以帮我为这个项目制作一个VI。突发应该在一个循环中，我应该能够控制它应该运行多长时间（即 1 天或 1.5 天）以及如何将 10 V 或 0 V 应用于 Labview 中的 CTRL1 和 CTRL2 线？

提前致谢。

编辑：

好的，我现在已经制作了一个连续采集电压和图形 VI，它有一个物理通道作为获取电压的输入。但我不知道如何做计数器部分，它将为 TTL（MOSFET）输出定时信号，以创建带有间隙的突发信号，然后将耗尽电池。

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从 DAQ 助手开始。查找包含此 VI 的教程。在框图中查看测量 I/O > DAQmx - 数据采集 > DAQ 助手。你应该可以把它连接到你的数据采集卡上。

也看看NI 论坛。

编辑：如果您不熟悉或不熟悉 LabVIEW，只需浏览位于 National Instruments\LabVIEW xx\examples 中的示例代码。对于您的应用程序，examples\DAQmx 可能会有相关代码。首先坚持基础知识，例如examples\general。您甚至可以修改示例，只是不要意外覆盖。

于 2010-08-30T17:56:40.647 回答