我需要开发一个图像标记应用程序,对于这个任务,我正在考虑在一组超像素上使用条件随机场 (CRF),有很多论文指出这项技术是该任务的最先进技术。像往常一样,该任务可以分为两个任务:
- 训练模型:对于这个问题将获得参数向量'w',例如使用
- 测试:这将获得给定超像素集的最可行的标签分配,即 argmax(P(y|x))
我知道训练时间相当长,但是我没有发现任何关于测试时间或性能的信息,有没有人知道测试问题需要多长时间?我想这将取决于标签的数量、图像大小、实现、硬件等
我需要开发一个图像标记应用程序,对于这个任务,我正在考虑在一组超像素上使用条件随机场 (CRF),有很多论文指出这项技术是该任务的最先进技术。像往常一样,该任务可以分为两个任务:
我知道训练时间相当长,但是我没有发现任何关于测试时间或性能的信息,有没有人知道测试问题需要多长时间?我想这将取决于标签的数量、图像大小、实现、硬件等
测试速度很慢,因为您仍然必须解决图形切割问题(但与训练不同)。您可以在http://drwn.anu.edu.au/drwnProjMultiSeg.html上试用一个实现(您可能已经看过 Stephen Gould 的论文)。
我还有日志文件。但这有点难以解释,因此以下内容可能并不完全准确。在一台超快的机器上,我认为它需要: