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我现在是一家质检公司的实习生。我的工作是编写一个程序来检测有缺陷的产品(例如,缺少螺丝)。他们为每一个产品拍照。我的想法是我选择一个可以作为基准的图像,然后将其他图像与 SSIM 分数进行比较,并可能用矩形显示有缺陷的部分。这是一个可行的想法吗?(这是一次奇怪的实习,因为似乎我是唯一可以在那里编码的人......)这就是我在这里问的原因。
如果您的目标是在比较基准图像的图像中对不同的对象进行分类,这听起来不错。但根据我的经验,SSIM 分数对角度、光线或环境很敏感。
因此,总而言之,如果您的目标是对图像中的不同对象进行分类,那么您的想法会奏效。但是,如果您的目标是对完全相同的对象进行分类,它可能无法分类。