我正在尝试编写一个 Gatan DigitalMicrograph 脚本来控制试样前后入射电子束的倾斜。我认为可以通过使用 EMGetBeamTilt、EMSetBeamTilt 和 EMChangeBeamTilt 等命令来获取和更改预试样透镜系统的值。但是,我不知道如何获取或控制投影仪镜头等后试样镜头系统的状态。应该编写什么命令或代码来控制投影仪镜头系统?
如果您分享一些智慧,将不胜感激。非常感谢您提前。
我正在尝试编写一个 Gatan DigitalMicrograph 脚本来控制试样前后入射电子束的倾斜。我认为可以通过使用 EMGetBeamTilt、EMSetBeamTilt 和 EMChangeBeamTilt 等命令来获取和更改预试样透镜系统的值。但是,我不知道如何获取或控制投影仪镜头等后试样镜头系统的状态。应该编写什么命令或代码来控制投影仪镜头系统?
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