像这样的二进制数字系统怎么样?当以非常高的总线速度计数时,晶体管不会过热,因此会限制时钟速度。
该解决方案同时使用 base-2 和 base-1 二进制来生成数字。
((base-2 二进制数)*size_of_in_bits(base-1 二进制数)) + base-1 二进制数
因此对于 16 位总线,高字节二进制 base-2 和低字节二进制 base-1,最大计数为 ((2^8)-1)*8)+8) = 2048
EEPROM寿命问题的解决方案可能是:
使用仅在写入新数据时更改所需单元的 EEPROM,以最大限度地延长使用寿命。
4 个字节(32 位)用于数字的 base-2 部分,13 个字节(100 位)用于数字的 base-1 部分。
((32 位 base-2 二进制数) x 100) + (100 bit binary base-1 计数计数器)
最大计数为 (((2^32)-1) *100)+100) = 429,496,729,700
这种方法应该从 EEPROM 或 FLASH 存储器中获得最大寿命,对于 FLASH 存储器,基数为 1 的数字应该被反转存储,因为擦除状态是逻辑 1。
EEPROM 可以读取、递增、写入两个数量级的数字,达到 100 万而不是 10000 万个。
给我发一封电子邮件,我可以给你程序,它可以在 MVS 2013 控制台中运行。
lion@palmbeach.freeserve.co.uk
/* www.goatelectronics.com 解决方案 */
/* 这个程序是用来测试eeprom寿命的,写入同一个页面和单元格 */
/* 32 位以 2 为底的二进制数 + 100 位以 1 为底的二进制数组成数字*/
/* byte 0 - 最高有效字节,二进制 base-2 数字 */
/* 字节 1 - */
/* 字节 2 - */
/* byte 3 - 最低有效字节,二进制 base-2 数字 */
/* 字节 4 - 32 位数字的 8 位 CRC 后缀,稍后完成 */
/* 字节 5 - 二进制基数为 1 的计数 0 到 8 */
/* 字节 6 - 二进制基数为 1 的计数 9 到 16*/
/* 字节 7 - 计数 17 到 24 ... */
/* 字节 8 - 计数 25 到 32 */
/* 字节 9 - 计数 33 到 40 */
/* 字节 10 - 计数 41 到 48 */
/* 字节 11 - 计数 49 到 56 */
/* 字节 12 - 计数 57 到 64 */
/* 字节 13 - 计数 65 到 72 */
/* 字节 14 - 计数 73 到 80 */
/* 字节 15 - 计数 81 到 88 */
/* 字节 16 - 计数 89 到 96 */
/* 字节 17 - 计数 97 到 100 */
#include "stdafx.h"
#include <iostream>
#include <conio.h>
using namespace std;
/* emulate the eeprom *here* , byte read and write */
unsigned char eeprom[] = { 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0,
0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0,
0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0 };
unsigned int EEPROM_read (void)
{
unsigned char i_u8;
unsigned int value_u32, value_A_u32, value_B_u32, value_C_u32, value_D_u32 = 0;
unsigned int base_1_u32 = 0;
value_A_u32 = eeprom[0];
value_A_u32 = value_A_u32 << 24;
value_B_u32 = eeprom[1];
value_B_u32 = value_B_u32 << 16;
value_C_u32 = eeprom[2];
value_C_u32 = value_C_u32 << 8;
value_D_u32 = eeprom[3];
value_u32 = value_A_u32 | value_B_u32 | value_C_u32 | value_D_u32;
/* eeprom[4] reserved location for CRC checksum! */
value_u32 = value_u32 * 100;
for (i_u8 = 5; eeprom[i_u8] == 0xFF; i_u8++)
{
base_1_u32 = base_1_u32 + 8;
}
switch (eeprom[i_u8])
{
case 0x80: base_1_u32 = base_1_u32 + 1;
break;
case 0xC0: base_1_u32 = base_1_u32 + 2;
break;
case 0xE0: base_1_u32 = base_1_u32 + 3;
break;
case 0xF0: base_1_u32 = base_1_u32 + 4;
break;
case 0xF8: base_1_u32 = base_1_u32 + 5;
break;
case 0xFC: base_1_u32 = base_1_u32 + 6;
break;
case 0xFE: base_1_u32 = base_1_u32 + 7;
break;
default:; /*if here, faulty EEPROM with base-1 number*/
}
value_u32 = value_u32 + base_1_u32;
return (value_u32);
}
void EEPROM_write(unsigned int number_u32)
{
unsigned char i_u8, remainder_u8;
unsigned int value_u32;
value_u32 = number_u32;
value_u32 = value_u32 / 100;
eeprom[0] = (unsigned char)((value_u32 & 0xFF000000) >> 24);
eeprom[1] = (unsigned char)((value_u32 & 0x00FF0000) >> 16);
eeprom[2] = (unsigned char)((value_u32 & 0x0000FF00) >> 8);
eeprom[3] = (unsigned char)((value_u32 & 0x000000FF));
remainder_u8 = (unsigned char)(number_u32 % 100);
if (!remainder_u8)
{
for (i_u8 = 5; i_u8 < 18; i_u8++)
{
eeprom[i_u8] = 0x00;
}
}
for (i_u8 = 5; remainder_u8 >=8; i_u8++)
{
eeprom[i_u8] = 0xFF;
remainder_u8 = remainder_u8 - 8;
}
switch (remainder_u8)
{
case 1: eeprom[i_u8] = 0x80;
break;
case 2: eeprom[i_u8] = 0xC0;
break;
case 3: eeprom[i_u8] = 0xE0;
break;
case 4: eeprom[i_u8] = 0xF0;
break;
case 5: eeprom[i_u8] = 0xF8;
break;
case 6: eeprom[i_u8] = 0xFC;
break;
case 7: eeprom[i_u8] = 0xFE;
break;
default:; /**/
}
}
int _tmain(int argc, _TCHAR* argv[])
{
unsigned char i_u8;
unsigned int test_number_u32;
unsigned int loop_u32 = 0;
while (loop_u32 <0xFFFFFFFF)
{
test_number_u32 = EEPROM_read();
test_number_u32++;
EEPROM_write(test_number_u32);
for (i_u8 = 0; i_u8 < 18; i_u8++)
{
printf(" %x", eeprom[i_u8]);
}
printf(" \n");
loop_u32++;
}