graphics - 3D 激光扫描仪捕捉法线？

Question

我工作的实验室大学正在购买用于扫描 3D 物体的激光扫描仪。从一开始，我们就一直在努力寻找一种能够从实际扫描表面捕获真实 RAW 法线的扫描仪。似乎大多数扫描仪只捕获点，然后软件进行插值以找到近似表面的法线。

有人知道是否真的有捕捉原始法线之类的东西吗？是否有扫描仪可以做到这一点，而不是从点数据中插入法线？

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不大可能。激光扫描是使用范围完成的。你想要的是结合两种完全不同的技术。可以使用控制良好的照明等以更高的精度评估法线，但需要一种非常不同的设置。还要考虑采样问题：比您的位置数据分辨率更高的法线有什么用？

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这是一篇使用结构光从梯度重建法线的示例文章。二维边缘渐变的形状

我没有找到我正在寻找的确切文章，但这似乎是基于相同的原则。在对象上变形后，您可以根据条纹的角度和宽度重建法线。

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如果您已经知道构成 3D 对象的材料的双向反射率分布函数，则可以使用角度反射计来比较某个点的测量 BRDF。然后，您可以通过将假设的 BRDF 与实际测量值进行比较来单独优化该点的计算法线。

诚然，这将是一项计算量相当大的任务。但是，如果您很少经历这个过程，它可能是可行的。

有关更多信息，我建议您与Radiance 的Greg Ward (Larson)或NVIDIA 的Peter Shirley交谈。

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您可以使用结构光 + 相机设置。
法线将来自投影线与图像上的位置之间的角度。正如其他海报所指出的那样——你不能从点激光扫描仪上做到这一点。

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捕获原始法线几乎总是使用光度立体。这几乎总是需要对底层反射率进行一些假设，但即使法线有些不准确，当将它们与另一个数据源结合时，您通常也可以做得很好：

将点云（例如来自激光扫描）与表面法线相结合的非常好的代码：http ://www.cs.princeton.edu/gfx/pubs/Nehab_2005_ECP/

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