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现在我正在研究解析作为 NMap 源代码一部分的 nmap-os-db 文件的项目。它包含与此类似的条目：

# Apple Time Capsule, firmware 7.3.1
# Apple Airport Extreme
# Linux 2.6.25.18-0.2-default #1 SMP 2008-10-21 16:30:26 +0200 x86_64 x86_64 x86_64 GNU/Linux
Fingerprint Apple AirPort Extreme WAP or Time Capsule NAS device (NetBSD)
Class Apple | embedded || storage-misc
Class Apple | embedded || WAP
CPE cpe:/h:apple:airport_extreme
SEQ(SP=CC-D8%GCD=1-6%ISR=D7-E1%TI=I%II=I%SS=S%TS=0)
OPS(O1=M5B4NW0NNT01SNN%O2=M5B4NW0NNT01SNN%O3=M5B4NW0NNT01%O4=M5B4NW0NNT01SNN%O5=M5B4NW0NNT01SNN%O6=M5B4NNT01SNN)
WIN(W1=8000%W2=8000%W3=8000%W4=8000%W5=8000%W6=8000)
ECN(R=Y%DF=Y%T=3B-45%TG=40%W=8000%O=M5B4NW0SNN%CC=N%Q=)
T1(R=Y%DF=Y%T=3B-45%TG=40%S=O%A=S+%F=AS%RD=0%Q=)
T2(R=Y%DF=N%T=3B-45%TG=40%W=0%S=Z%A=S%F=AR%O=%RD=0%Q=)
T3(R=Y%DF=Y%T=3B-45%TG=40%W=8000%S=O%A=S+%F=AS%O=M5B4NW0NNT01SNN%RD=0%Q=)
T4(R=Y%DF=N%T=3B-45%TG=40%W=0%S=A%A=Z%F=R%O=%RD=0%Q=)
T5(R=Y%DF=N%T=3B-45%TG=40%W=0%S=Z%A=S+%F=AR%O=%RD=0%Q=)
T6(R=Y%DF=N%T=3B-45%TG=40%W=0%S=A%A=Z%F=R%O=%RD=0%Q=)
T7(R=Y%DF=N%T=3B-45%TG=40%W=0%S=Z%A=S%F=AR%O=%RD=0%Q=)
U1(DF=N%T=FA-104%TG=FF%IPL=38%UN=0%RIPL=G%RID=G%RIPCK=I%RUCK=G%RUD=G)
IE(DFI=N%T=FA-104%TG=FF%CD=S)

我的要求是在解析这个包含大约 3000 个条目的文本文件后，与上述非常相似。我需要能够进行汇总统计，如在等号右侧打印出 SEQ 行内 SP 测试的每个可能值及其相对百分比。如有必要，我还需要能够调出整个条目，并可能将它们分组到类似的产品中，例如 Apple 与 Apple、Microsoft 与 Microsoft 等。

下面我有我完成的结构的代码，这些代码让我完成了总结和个人入口要求。我解析信息没有问题，只是想知道是否有更好的方法来跟踪它们。

//Holds a test value
typedef struct
{
    char *name;
    int numberOccurences;
    void *nextValue;
} Value;

//Holds all the possible values for a given test
typedef struct
{
    char *name;
    Value *value_head;
    int totalOccurences;
    void *nextTest;
} Test;
//Create probe type to hold the all the possible tests for a given probe
typedef struct
{
    char *name;
    Test *test_head;
    void *nextProbe;
} Probe;


typedef struct
{
    char *classLine;
    char *manufacturer;
    char *product;
    void *nextClass;
} PrintClass;

//Create type to hold all the gathered fingerprints
typedef struct
{
    char *name;
    //char **class;
    //int numClass;
    PrintClass *class_head;
    char **cpe;
    int numCPE;
    char **probes;
    int numProbes;
    void *nextPrint;
} Fingerprint;

typedef struct
{
    char *name;
    void *nextProduct;
} Product;

typedef struct
{
    char *manufacturer;
    Product *product_head;
    void *nextGroup;
} PrintGroup;

我的主要问题是我担心我所拥有的可能比它需要的更麻烦，而且我可能过于专注于使其面向对象。我只是想知道是否有人有更聪明的方式来做这件事，或者我可以改进或将其浓缩为一种类型的领域。我希望很清楚我在问什么。

万一从代码中不清楚，我有一个用于跟踪文件中所有单个条目的指纹结构，我有探针结构，并且所有附加到它的结构都收集了每个探针的统计信息（ SEQ、OPS 等）它们的测试（SP、GCD、ISR 等）和测试值。最后，我有印刷组来跟踪印刷系列，例如 Apple、Microsoft 等，尽管该部分仍在进行中。

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