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我想在 ARM 处理器上为我的应用程序进行分析。我发现 oprofile 不起作用。几年前有人使用以下代码进行测试。循环计数器确实起作用，性能监视器计数器仍然不起作用。我又测试了一遍，还是一样。对于以下代码，我得到了循环计数：2109，性能监视器计数：0。我已经通过谷歌搜索，到目前为止，我还没有找到解决方案。有人解决了这个问题吗？

    uint32_t value = 0
    uint32_t count = 0;
    struct timeval tv;
    struct timezone tz;

    // enable all counters
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 1" ::"r" (0x8000000f));

    // select counter 0,
    __asm__ __volatile__("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 5" ::"r" (0x0));
    // select event
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c13, 1" ::"r"(0x57));

    // reset all counters to ero and enable all counters
    __asm__ __volatile__ ("mrc p15, 0, %0, c9, c12, 0" : "=r" (value));
    value |= 0xF;
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 0" :: "r" (value));

    gettimeofday(&tv, &tz);

    __asm__ __volatile__("mrc p15, 0, %0, c9, c13, 0" : "=r" (count));
    printf("cycle count: %d", count);

    __asm__ __volatile__ ("mrc P15, 0, %0, c9, c13, 2": "=r" (count));
    printf("performance monitor count: %d", count);
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1 回答 1

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我刚刚遇到了同样的问题，就我而言，这是由于NIDENm信号被拉低所致。

来自 ARM 文档：

PMU 仅在启用非侵入式调试时计数事件，即当任一DBGENm或NIDENm输入被置位时。周期计数 (PMCCNTR) 寄存器始终启用，无论是否启用了非侵入式调试，除非 PMCR 寄存器的 DP 位置位。

NIDENm信号是 ARM内核的输入，因此它的控制方式将取决于内核外部的处理器部分。就我而言，我找到了一个控制 NIDEN 的寄存器。在您的情况下，它可能是一个寄存器，或一个引脚，或者（可能）信号被拉低并且您无法使用该功能。

同样来自 ARM 文档：

DBGENm和信号的值NIDENm可以通过轮询DBGDSCR[17:16]、DBGDSCR[15:14]或来确定DBGAUTHSTATUS。

因此，如果您可以阅读其中之一，则可以确认问题出在NIDENm。

于 2013-05-16T04:18:24.307 回答