我正在尝试使用性能记录来记录 15 个硬件和跟踪点事件。
我想了解以下内容:
基于事件的采样:从我理解的文档中,每当与该事件对应的 64 位计数器溢出时,性能记录就会采样。是对的吗?计数器会在 ~ 2^64 次此类事件后溢出吗?
当我要测量的事件多于 PMU/计数器的数量时,我是否必须通过任何特定的开关才能使用多路复用。在存在多路复用的情况下溢出事件如何表现。
开关“-c”的目的/用途是什么?我可以使用此开关使计数器溢出每个 n 事件吗?
请帮忙。
我正在尝试使用性能记录来记录 15 个硬件和跟踪点事件。
我想了解以下内容:
基于事件的采样:从我理解的文档中,每当与该事件对应的 64 位计数器溢出时,性能记录就会采样。是对的吗?计数器会在 ~ 2^64 次此类事件后溢出吗?
当我要测量的事件多于 PMU/计数器的数量时,我是否必须通过任何特定的开关才能使用多路复用。在存在多路复用的情况下溢出事件如何表现。
开关“-c”的目的/用途是什么?我可以使用此开关使计数器溢出每个 n 事件吗?
请帮忙。