我正在编写一个数据记录应用程序(在微控制器上运行),它将数据写入普通的嵌入式 NOR 型串行闪存(在本例中为 AT25DF161。)
每个数据包(240 或 496 字节)将一个接一个地单独记录到闪存中。我认为闪存中最常见的故障是卡住位 - 通常是“0”,即未擦除状态。我需要能够检测单个位事件,通常每条记录最多两个(我假设这是 100,000 次写入周期后的最坏情况。)
我正在使用具有内置 16 位 CRC 计算模块的处理器,因此使用更少或更多项对性能没有影响 - 那么我需要做出哪些决定来确定最佳多项式?